基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）

蔡司三维X射线机(工业CT)ZEISS METROTOM利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，

仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精细工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。

配备线性导轨及转台，满足客户对准确性的高要求。

看得较多

在第三代系统中，新的3k检测 器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺 陷。

扫描提快

通过检测 器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测 器相当的体素尺寸。

测量与检验整体部件

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。

而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。